環(huán)境濕度對點(diǎn)NC膜過程非常重要，濕度一般在45-65%。濕度過低，膜上容易聚集靜電荷，點(diǎn)膜容易出現(xiàn)散點(diǎn)，導(dǎo)致測試會出現(xiàn)疏水斑。濕度過高，膜上毛細(xì)作用加強(qiáng)，點(diǎn)膜容易引起CT線變寬甚至擴(kuò)散。為了保證點(diǎn)樣時(shí)膜濕度的均一性，一般在點(diǎn)樣前把膜放到該濕度條件下平衡一段時(shí)間。
 

　　點(diǎn)樣儀器與膜面情況的關(guān)系
 

　　有兩種點(diǎn)樣方式，劃膜式和非接觸點(diǎn)膜式、非接觸點(diǎn)膜式優(yōu)于劃膜式，進(jìn)口劃膜式優(yōu)于國產(chǎn)劃膜式。
 

　　因劃膜式為軟管將抗體劃到膜表面，而膜本身的物理性質(zhì)為軟脆，劃管會在其表面留下印痕.進(jìn)口的劃膜機(jī)由于使用的材料和控制系統(tǒng)較好，所以留下的劃痕較輕，而國產(chǎn)儀器較差，留下的劃痕也就比較嚴(yán)重。 劃痕容易對層析的金標(biāo)復(fù)合物形成阻力，導(dǎo)致假陽性。 同時(shí)容易出現(xiàn)跑板時(shí)在T線位置出現(xiàn)若有若無一條細(xì)線(鬼線)，而跑板結(jié)束后鬼線消失的奇怪現(xiàn)象。
 

　　NC膜的寬度一般有18mm(or 20mm)和25mm兩種， 分別使用在做測試條和做測試板上。然而，不同的T線點(diǎn)樣位置將帶來不同的靈敏度。
 

　　點(diǎn)樣位置上移，金標(biāo)復(fù)合物通過T線位置時(shí)速度變慢，反應(yīng)時(shí)間增加，靈敏度升高。反之靈敏度降低。這個(gè)方法可以用來改變靈敏度和消除假陽性。
 

　　NC膜的儲存
 

　　剛生產(chǎn)出的膜一般含有5-10%的水分。關(guān)于膜的老化機(jī)理，有個(gè)理論支持，不過爭議比較大。理論認(rèn)為：膜的老化是因?yàn)槟ど系乃终舭l(fā)，使膜變得疏水，帶電荷并變脆。儲存膜一般要求是避光，密封，過干或過濕都不利。在這種保存條件下，一般可以放置兩年。但是如果膜上做了封閉處理，就要根據(jù)具體試驗(yàn)情況來判斷了。有些膜由于生產(chǎn)工藝的問題，使用后靈敏度會在一段時(shí)間內(nèi)發(fā)生變化，遇到這種問題，就需要在點(diǎn)膜后放置一段時(shí)間，待穩(wěn)定后方可進(jìn)入調(diào)試生產(chǎn)。